根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,以下说法正确的是( )。
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据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,校准标准片可以有下述哪些形式( )。
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根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度,仪器校准时,以下说法正确的是( )。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,为了减小边缘效应的影响,不要在靠近如下哪些部位进行测量( )。
据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,当基体金属厚度没有超过临界厚度时,( )。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度前,为了保证表面清洁度,应除去试样表面上的( )。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,应避开如下哪些难于清除的明显缺陷( )。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,下述哪些措施是正确的( )。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,仪器的校准和操作应使覆盖层厚度能测准到( )或( )以内。
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